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SERVICIO DE DIFRACCIÓN DE RAYOS-X

Necesidad

El conocimiento de las diferentes características de los materiales permite a las empresas cumplir con las especificaciones de sus clientes, garantizando la calidad de sus productos. Uno de los principales parámetros que una empresa debe determinar es la composición del material que está vendiendo. La difracción de rayos X permite identificar y cuantificar con rapidez y fiabilidad las fases cristalinas presentes en las muestras. Sólo se puede aplicar a sistemas cristalinos, por lo que no es útil para gases, disoluciones, sistemas biológicos in vivo o compuestos amorfos.

Motivos

Uno de los objetivos prioritarios del Servicio de difracción de Rayos-X de los Servicios Centrales de Apoyo a la Investigación (SCAI) de la UMA es atender a las necesidades de la pequeña y mediana empresa. El servicio cuenta con un moderno equipamiento que permite operar en un tiempo record fomentando la relación Empresa-Universidad a un coste competitivo. El equipo humano está cualificado, con un bagaje contrastable en investigación y colaboraciones con empresas mediante facturación directa por el SCAI y contratos OTRI. Se tiene experiencia en la identificación y cuantificación de mezclas complejas tales como cementos Portland, partículas sólidas en suspensión, incrustaciones calcáreas, etc.

Sector

La difracción de rayos-X es una herramienta útil para:
- Industria cementera (materias primas, clínkeres, cementos, adiciones, costras de hornos, etc…)
- Determinación de partículas sólidas emitidas al Medio Ambiente.
- Refractarios.
- Suelos y materiales arcillosos.
- Deposiciones y láminas delgadas.
- Establecer propiedades de materiales a altas temperaturas (expansiones térmicas, transformaciones etc…)
- Incrustaciones calcáreas.
- Cualquier otra industria de materiales con componentes cristalinos.

Servicios

Nuestro servicio consta de:
- Un difractómetro X´Pert PRO de PANanalytical en el que se pueden medir:
- muestras en polvo con radiación estrictamente monocromática
- deposiciones y láminas delgadas
- muestras en polvo en pequeñas cantidades o poco absorbentes (capilar)
- muestras en polvo a temperatura controlada (cámara de baja y alta temperatura) disponible 2º semestre 2007
- Un difractómetro D5000 de Bruker en el que se pueden medir muestras en polvo a temperatura ambiente y alta temperatura.

Del análisis de los datos de difracción de rayos-X se consigue:
- Identificación
- Análisis estructural,
- Cuantificación mineralógica mediante el método de Rietveld.

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