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SERVICIO DE AFM-NSOM-MicroRaman

Necesidad

El descubrimiento de la microscopia de sonda local y en concreto de las técnicas de microscopía de fuerzas atómicas (AFM) y microscopía óptica de campo cercano (NSOM) ha permitido obtener la imagen topográfica y óptica de la superficie de un material con resolución en el rango nanométrico (1-100nm). Además, este aumento de la imagen se realiza en las tres dimensiones, en el plano horizontal X,Y y en el vertical, Z, a diferencia de las otras microscopías convencionales. A su vez, el microscopio Raman en modalidad de confocalidad permite obtener la imagen Raman de la superficie de la muestra con resolución micrométrica.

Motivos

El laboratorio de AFM-NSOM-MicroRaman de la UMA cuenta con el más moderno equipamiento para la caracterización de materiales a escala nanométrica y con un equipo humano altamente cualificado, que garantiza la fiabilidad de las medidas y facilita el acceso a estas técnicas sofisticadas de todo tipo de organización que lo necesite con costes muy competitivos.

Sector

Para AFM-NSOM:
- Caracterización nanoscópica de materiales sólidos y muestras secas como por ejemplo, semiconductores, membranas biológicas, polímeros, etc.
- Caracterización topográfica del crecimiento de moléculas sobre sustratos inertes como mica moskovita.

Para MicroRaman:
- Espectroscopia vibracional Raman de muestras sólidas y líquidas en distintos puntos de un plano horizontal y diferentes planos focales obteniéndose mapas horizontales y en profundidad.
- Etc.

Servicios

Nuestros servicios incluyen, entre otros:
- Microscopia de fuerzas atómicas en modo contacto y no contacto (tapping en otros equipos)
- Microscopia óptica de campo cercano en modo reflexión y transmisión
- Microscopia Raman en modo confocal con diferentes líneas de excitación (488 nm, 514.5nm y 785 nm)

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